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Interactions électrons-matière

  • ECTS

    3 crédits

  • Composante

    Sciences Fondamentales et Appliquées

Description

Microscopie électronique et applications – microanalyse X. Bref historique de la microscopie. Rappels des aspects théoriques de l’interaction électron-matière. La microscopie électronique, principe et équipement (Eléments d’optique électronique pour le microscope électronique à balayage, MEB, et en transmission, MET). Le MEB et ses applications en imagerie. La micro-analyse X par sonde électronique, principe et instrumentation. La micro-analyse et ses applications.
Travaux pratiques : Démonstration sur MEB en laboratoire (Institut Pprime) et prise en main du MEB.

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Objectifs

Connaître les aspects fondamentaux et technologiques sur lesquels s'appuient les techniques de microscopie électronique en vue d'une utilisation semi-experte des données de microscopie (images et cartographies) en Science des matériaux.

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Heures d'enseignement

  • TPTP8h
  • CMCM10h
  • TDTD8h