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Solid analysis / Analyses spécifiques des solides

  • Niveau d'étude

    Bac +5

  • ECTS

    6 crédits

  • Composante

    Sciences Fondamentales et Appliquées

Description

XPS, XRD, TEM, SEM, IR, Raman…

Elargir et conforter les connaissances de techniques d'analyses structurales de l'état solide : spectroscopies photonique et électronique, microscopie électronique et diffractométrie.

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Objectifs

To be able to characterise solid catalysts by various techniques

En français :

- Connaître les principes fondamentaux des techniques abordées.

- Connaître les informations accessibles selon la technique envisagée

- Comprendre les points forts/faibles et les conditions d'emploi de chaque technique.

- Connaître les éléments constitutifs d'un appareillage et leur rôle dans la réalisation de l'analyse.

-Apprendre à interpréter des résultats d'analyses

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Heures d'enseignement

  • Analyses spécifiques des solides - TDTD36h
  • Analyses spécifiques des solides - CMCM24h

Pré-requis nécessaires

Master 1 in chemistry or equivalent

Master 1 de Chimie ou équivalent

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Syllabus

XPS, XRD, TEM, SEM, IR, Raman analyses

- Spectroscopies infrarouge (I.R.) et Raman : règles de sélection et théorie des groupes. Applications aux solides inorganiques. Spectroscopie I.R. et molécules sondes.

- Microscopie électronique (M.E.T. / M.E.B.) : théorie de l'image, franges de réseau, franges de Fresnel, structure fine de l'image. Indexation d'un cliché de diffraction électronique.

- Diffraction des rayons X de poudres (D.R.X.) : rappel de cristallographie géométrique, tables internationales de cristallographie (volume A, groupes d’espace), aspects instrumentaux, étude des diagrammes de diffraction, traitement des données enregistrées, détermination de structures cristallines.

- Spectrométrie photoélectronique X (X.P.S.).

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Compétences visées

- Cibler la technique d'analyse à réaliser en fonction de l'information recherchée

- Savoir mobiliser ses connaissances et être capable de mener des analyses structurales poussées sur les solides.

- Savoir indexer un cliché de diffraction électronique.

- Savoir reconnaître les aberrations rencontrées en microscopie électronique.

- Savoir utiliser les pages des groupes d’espace présentées dans les tables internationales de cristallographie.

- Savoir appréhender l’influence de la variation des paramètres instrumentaux liés aux éléments techniques d’un diffractomètre de rayons X de poudres sur les résultats de mesures par goniométrie.

- Être capable de reconnaître l’influence des facteurs responsables de la variation de la position et de l’intensité des réflexions constitutives d’un diagramme de diffraction.

- Maîtriser les composantes du profil de raies de diffraction par une structure périodique. Savoir utiliser les fonctions de formes de profil de raie comportant des contributions liées à l’instrumentation et celles liées à l’échantillon analysé.

- Maîtriser les étapes du traitement des données expérimentales obtenues diffractométrie de rayons X sur poudres.

.- interpréter les résultats

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